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精选电镀通信Major

电镀铜柱高度不一致导致BGA共面性差

5G AAU板BGA封装后共面性超标

常工· 京信通信技术有限公司2026/7/27467 次阅读发生日期:2024/11/22

D1
团队组建

工程部:常工、于工;研发部:汤工

D2
问题描述

铜柱高度极差25μm,BGA共面性超标导致虚焊

D3
临时围堵措施

在制品3D扫描全检,共面性超标品返工

D4
根本原因分析

掩膜开窗尺寸偏差±10μm,导致局部电流密度差异

D5
永久纠正措施

重新制作掩膜统一开窗尺寸,增加电流屏蔽环

D6
实施验证

5批次铜柱高度极差<10μm,BGA共面性合格

D7
预防措施

建立铜柱电镀仿真模型,新设计先仿真验证

D8
团队表彰与总结

项目组获爱立信全球供应商质量奖

经验教训

掩膜开窗尺寸必须统一设计,铜柱高度SPC管控